เครื่องเอกซ์เรย์ฟลูออเรสเซนต์สเปกโทรมิเตอร์
การทดสอบตรวจสอบ

เครื่องเอกซ์เรย์ฟลูออเรสเซนต์สเปกโทรมิเตอร์

X-ray fluorescence spectrometer (XRF)

-Powerful Non-Destructive Elemental Analysis Provides precise qualitative and quantitative analysis from Sodium (Na) to Americium (Am) without damaging the sample and with minimal sample preparation. -Versatile Sample Handling Capable of analyzing various sample forms including solids, powders, and liquids, as well as large irregular objects up to 15 x 12 x 10 cm. -Superior Sensitivity and Accuracy Features a Silver (Ag) anode X-ray tube and Silicon Drift Detector
รหัสรายการ
Epsilon 1 Malvern Panalytical
ห้องปฏิบัติการ
510 ห้องปฏิบัติการทดสอบโดยใช้เทคนิคสเปกโตรโฟโตเมตรี Spectrophotometry Analysis Laboratory
รูปแบบบริการ
-
ยังไม่เปิดให้ยื่นคำขอออนไลน์

รายละเอียด

Specifications -X-ray fluorescence spectrometer (XRF) Epsilon 1,Malvern Panalytical

Property

Description

Technique

Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Elemental Range

Sodium (Na) to Americium (Am)

Concentration Range

ppm to 100%

X-ray Tube

Silver (Ag) anode, 50 kV (Ideal for light and heavy elements)

Detector Type

High-resolution Silicon Drift Detector (SDD)

Sample Types

Solids, liquids, powders, slurries, films, and coatings

Max. Sample Size

150 x 120 x 100 mm (W x D x H)

Special Sensors

Built-in temperature and air-pressure compensation

Software

Epsilon software with Omnian standardless analysis